JD-2003激光测厚系统在工业生产中的非接触、在线测量中，对于提高产品的质量、生产效率及安全保障等方面均发挥着非常重要的作用。JD-2003激光测厚系统可以完成许多用接触式测量手段无法完成的检测任务。经过多年的科技攻关研发出各种测量系统。
JD-2003激光测厚系统在膜厚测量上的应用
JD-2003激光测厚系统的优点：高，不受被测物的材料、质地、型状、反射率的限制。从白色到黑色，从金属到陶瓷、塑料都可以测量。
激光测厚仪，
JD-2003激光测厚系统技术参数
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测量范围 |
< 3mm |
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分辨率 |
0.001mm |
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±0.003mm |
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光源波长 |
0.65mm |
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光针直径 |
~200mm |
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测量速度（曝光时间） |
0.0001秒 |
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工作温度 |
0~40℃ |
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激光防护等级 |
3B |
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电源电压 |
220v |
